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二極管的加速壽命試驗

發布日期:2014-12-15 15:55:03

加速壽命試驗是指采用加大應力的方法促使樣品在短期內失效,以預測在正常工作條件或儲存條件下的可靠性,但不改變受試樣品的失效分布。
通過加速壽命試驗可達到以下目的:
(1)、在較短時間里,對高可靠元器件的可靠性水平進行評估,可用外推法快速預測在規定條件下的失效率;
(2)、在較短時間內,對元器件可靠性設計、工藝改進和可靠性增長的效果進行評估;
(3)、在較短時間內,加速暴露元器件失效模式和機理,從而可正確地制定失效判據和篩選條件。
必須指出,元器件的電氣規格參數指標與其性能穩定可靠是不同的概念,兩者之間并沒有直接的聯系。規格參數良好的元器件,它的可靠性不一定高;相反,規格參數差一些的元器件,其可靠性也不一定低。電子元器件的大部分規格參數都可以通過儀表立即測量出來,但是它們的可靠性和穩定性卻必須通過各種可靠性試驗,或者大量(或長期)的使用之后才能判斷出來。
電子元器件的失效率數據,可以通過對它的可靠性試驗求得:
         λ=失效率=失效數÷(試驗器件的總數×運用時間)
失效率的常用單位是Fit(1Fit=10-9/h),一百萬個元器件運用1000h有1個失效,就叫做1Fit。失效率越低,說明元器件的可靠性越高。

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